本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測(cè)定其離面位移的新型，優(yōu)良的測(cè)試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、無(wú)需暗房操作，實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn)，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。

產(chǎn)品型號(hào)：WSG-1型

更新時(shí)間：2025-12-08

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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本實(shí)驗(yàn)裝置主要面向大專院校教學(xué)使用。本實(shí)驗(yàn)是用激光光束直接照射到測(cè)試表面，再用CCD采其變形前后表面散斑顆粒干涉形成的條紋，以測(cè)定其離面位移的新型，優(yōu)良的測(cè)試技術(shù)。本實(shí)驗(yàn)裝置可以使學(xué)生了解其原理和測(cè)量的方法。
該實(shí)驗(yàn)裝置具有機(jī)構(gòu)簡(jiǎn)單、精度高、靈敏性好、非接觸、無(wú)需暗房操作，實(shí)時(shí)顯示全場(chǎng)信息及處理信息快等優(yōu)點(diǎn)，故而應(yīng)用廣泛，如物體形變測(cè)量、無(wú)損測(cè)量、震動(dòng)測(cè)量等。